Rasterkraftmikroskopie
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Rasterkraftmikroskopie

Marke BIOBASE

Produktherkunft CHINA

Lieferzeit Innerhalb von 7 Tagen

Versorgungskapazität Direktlieferung ab Werk

Modell BK-AFM1000

Einführung:
Die Rasterkraftmikroskopie (AFM) ist eine hochauflösende Bildgebungstechnik zur Analyse von Oberflächeneigenschaften im Nanometerbereich. AFM wird in der Materialwissenschaft, Biologie, Physik und Nanotechnologie häufig zur Untersuchung von Oberflächen und dünnen Filmen eingesetzt und ermöglicht es Forschern, topografische Karten mit atomarer Präzision zu erstellen.

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Rasterkraftmikroskopie

Merkmale:
1. Integrierte Rastersonde und Probentisch verbessern die Entstörungsfähigkeit des Federaufhängungssystems.

2. Das Präzisionslaser- und Sondenpositionierungsgerät macht den Sondenwechsel und die Punkteinstellung einfach und bequem.

3. Die automatische Annäherung von der Probe an die Sonde bietet eine wirksame Möglichkeit, einen Cantilever-Absturz zu verhindern.

4. Durch die vertikale Annäherung der Probensonde ist eine präzise Positionierung des interessierenden Bereichs möglich.

5. Der interessierende Probenscanbereich kann mit einem hochpräzisen/weitreichenden XY-Tisch frei ausgewählt werden.

6. Das Top-View-CCD-System gewährleistet Echtzeitbeobachtung und Positionierung der Sonde im ausgewählten Probenbereich.

7. Der modulare Aufbau des elektronischen Steuerungssystems erleichtert die Wartung und kontinuierliche Verbesserung.

8. Das kompakte Modell 2000 kann problemlos in einem Aluminiumkoffer transportiert werden.

9. Die hermetische Box im Modell 1000 bietet eine kontrollierte Umgebung.

 

Technische Parameter:

Modell

BK-AFM1000

Arbeitsmodi

Kontaktmodus und Läppmodus

Optionale Modi: Phase, Reibung (LFM), Magnetisch (MFM), Elektrostatisch (EFM)

Stichprobengröße

Ф≤90mm, H≤20mm

Verfügbare Scanner

10*10μm, 20*20μm, 50*50μm, 100*100μm

Scanauflösung

0,2 nm in XY-Richtung, 0,05 nm in Z-Richtung

Bereich der Probenbewegung

±6,5 mm

Schrittmotor-Pulsbreite

10±2ms

Bildabtastpunkte

512*512

Optische Vergrößerung 4X

Optische Auflösung 2,5 μm

Abtastrate 0,6 Hz ~ 4,34 Hz

Scanwinkel 0°~360°

Scan-Steuerung

18-Bit D/A in XY-Richtung, 16-Bit D/A in Z-Richtung

Datenstichproben

14-Bit A/D, doppelte 16-Bit A/D-Mehrkanal-Synchronabtastung

Rückmeldung

Digitales DSP-Feedback

Feedback-Abtastrate

64 kHz

Computerschnittstelle

USB 2.0

Betriebssystem

Windows XP/7/8/10

Stromversorgung

AC220 V, 50/60 Hz; 110 V, 50/60 Hz (optional)

Paketgröße

550 x 550 x 1150 mm

Bruttogewicht

65 kg


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