Rasterkraftmikroskopie
Marke BIOBASE
Produktherkunft CHINA
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Versorgungskapazität Direktlieferung ab Werk
Modell BK-AFM1000
Einführung:
Die Rasterkraftmikroskopie (AFM) ist eine hochauflösende Bildgebungstechnik zur Analyse von Oberflächeneigenschaften im Nanometerbereich. AFM wird in der Materialwissenschaft, Biologie, Physik und Nanotechnologie häufig zur Untersuchung von Oberflächen und dünnen Filmen eingesetzt und ermöglicht es Forschern, topografische Karten mit atomarer Präzision zu erstellen.
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Merkmale:
1. Integrierte Rastersonde und Probentisch verbessern die Entstörungsfähigkeit des Federaufhängungssystems.
2. Das Präzisionslaser- und Sondenpositionierungsgerät macht den Sondenwechsel und die Punkteinstellung einfach und bequem.
3. Die automatische Annäherung von der Probe an die Sonde bietet eine wirksame Möglichkeit, einen Cantilever-Absturz zu verhindern.
4. Durch die vertikale Annäherung der Probensonde ist eine präzise Positionierung des interessierenden Bereichs möglich.
5. Der interessierende Probenscanbereich kann mit einem hochpräzisen/weitreichenden XY-Tisch frei ausgewählt werden.
6. Das Top-View-CCD-System gewährleistet Echtzeitbeobachtung und Positionierung der Sonde im ausgewählten Probenbereich.
7. Der modulare Aufbau des elektronischen Steuerungssystems erleichtert die Wartung und kontinuierliche Verbesserung.
8. Das kompakte Modell 2000 kann problemlos in einem Aluminiumkoffer transportiert werden.
9. Die hermetische Box im Modell 1000 bietet eine kontrollierte Umgebung.
Technische Parameter:
Modell | BK-AFM1000 |
Arbeitsmodi | Kontaktmodus und Läppmodus Optionale Modi: Phase, Reibung (LFM), Magnetisch (MFM), Elektrostatisch (EFM) |
Stichprobengröße | Ф≤90mm, H≤20mm |
Verfügbare Scanner | 10*10μm, 20*20μm, 50*50μm, 100*100μm |
Scanauflösung | 0,2 nm in XY-Richtung, 0,05 nm in Z-Richtung |
Bereich der Probenbewegung | ±6,5 mm |
Schrittmotor-Pulsbreite | 10±2ms |
Bildabtastpunkte | 512*512 |
Optische Vergrößerung 4X | Optische Auflösung 2,5 μm |
Abtastrate 0,6 Hz ~ 4,34 Hz | Scanwinkel 0°~360° |
Scan-Steuerung | 18-Bit D/A in XY-Richtung, 16-Bit D/A in Z-Richtung |
Datenstichproben | 14-Bit A/D, doppelte 16-Bit A/D-Mehrkanal-Synchronabtastung |
Rückmeldung | Digitales DSP-Feedback |
Feedback-Abtastrate | 64 kHz |
Computerschnittstelle | USB 2.0 |
Betriebssystem | Windows XP/7/8/10 |
Stromversorgung | AC220 V, 50/60 Hz; 110 V, 50/60 Hz (optional) |
Paketgröße | 550 x 550 x 1150 mm |
Bruttogewicht | 65 kg |