hochauflösendes afm
  • Rasterkraftmikroskopie

    Rasterkraftmikroskopie

    Einführung: Die Rasterkraftmikroskopie (AFM) ist eine hochauflösende Bildgebungstechnik zur Analyse von Oberflächeneigenschaften im Nanometerbereich. AFM wird in der Materialwissenschaft, Biologie, Physik und Nanotechnologie häufig zur Untersuchung von Oberflächen und dünnen Filmen eingesetzt und ermöglicht es Forschern, topografische Karten mit atomarer Präzision zu erstellen.

    Send Email Einzelheiten
Holen Sie sich den neuesten Preis? Wir werden so schnell wie möglich antworten (innerhalb von 12 Stunden)

Datenschutz-Bestimmungen