rasterkraftmikroskopie
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    Rasterkraftmikroskopie

    Einführung: Die Rasterkraftmikroskopie (AFM) ist ein hochauflösendes Bildgebungsverfahren zur Analyse von Oberflächeneigenschaften im Nanometerbereich. AFM wird häufig in der Materialwissenschaft, Biologie, Physik und Nanotechnologie zur Untersuchung von Oberflächen und dünnen Schichten eingesetzt und ermöglicht Forschern die Erfassung topografischer Karten mit atomarer Präzision.

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