Rasterkraftmikroskopie
Marke BIOBASE
Produktherkunft CHINA
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Versorgungskapazität Direktlieferung ab Werk
Modell BK-AFM1000
Einführung:
Die Rasterkraftmikroskopie (AFM) ist ein hochauflösendes Bildgebungsverfahren zur Analyse von Oberflächeneigenschaften im Nanometerbereich. AFM wird häufig in der Materialwissenschaft, Biologie, Physik und Nanotechnologie zur Untersuchung von Oberflächen und dünnen Schichten eingesetzt und ermöglicht Forschern die Erfassung topografischer Karten mit atomarer Präzision.
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Merkmale:
1. Integrierte Rastersonde und Probentisch verbessern die Störfestigkeit des Federaufhängungssystems.
2. Das Präzisionslaser- und Sondenpositionierungsgerät macht den Sondenwechsel und die Punkteinstellung einfach und bequem.
3. Die automatische Annäherung der Probe an die Sonde bietet eine effiziente Möglichkeit, einen Zusammenstoß des Auslegers zu verhindern.
4. Durch die vertikale Annäherung der Probensonde ist eine präzise Positionierung des interessierenden Bereichs möglich.
5. Der interessierende Probenscanbereich kann mit einem hochpräzisen/weitreichenden XY-Tisch frei ausgewählt werden.
6. Das Top-View-CCD-System gewährleistet eine Echtzeitbeobachtung und Positionierung der Sonde im ausgewählten Probenbereich.
7. Der modulare Aufbau des elektronischen Steuerungssystems erleichtert die Wartung und kontinuierliche Verbesserung.
8. Das kompakte Modell 2000 kann problemlos in einem Aluminiumkoffer transportiert werden.
9. Die hermetische Box im Modell 1000 bietet eine kontrollierte Umgebung.
Technische Parameter:
| Modell | BK-AFM1000 |
Arbeitsmodi | Kontaktmodus und Läppmodus Optionale Modi: Phase, Reibung (LFM), Magnetisch (MFM), Elektrostatisch (EFM) |
Stichprobengröße | Ф≤90mm, H≤20mm |
Verfügbare Scanner | 10*10μm, 20*20μm, 50*50μm, 100*100μm |
Scanauflösung | 0,2 nm in XY-Richtung, 0,05 nm in Z-Richtung |
Bewegungsbereich der Probe | ±6,5 mm |
Schrittmotor-Pulsbreite | 10±2ms |
Bildabtastpunkte | 512*512 |
Optische Vergrößerung 4X | Optische Auflösung 2,5 μm |
Scan-Rate 0,6 Hz – 4,34 Hz | Scanwinkel 0°~360° |
Scan-Steuerung | 18-Bit D/A in XY-Richtung, 16-Bit D/A in Z-Richtung |
Datenstichproben | 14-Bit A/D, doppelte 16-Bit A/D-Mehrkanal-Synchronabtastung |
Rückmeldung | Digitales DSP-Feedback |
Feedback-Abtastrate | 64 kHz |
Computerschnittstelle | USB 2.0 |
Betriebssystem | Windows XP/7/8/10 |
Stromversorgung | AC 220 V, 50/60 Hz; 110 V, 50/60 Hz (optional) |
Paketgröße | 550*550*1150 mm |
Bruttogewicht | 65 kg |
