afm für die nanotechnologie
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    Rasterkraftmikroskopie

    Einführung: Die Rasterkraftmikroskopie (AFM) ist eine hochauflösende Bildgebungstechnik zur Analyse von Oberflächeneigenschaften im Nanometerbereich. AFM wird in der Materialwissenschaft, Biologie, Physik und Nanotechnologie häufig zur Untersuchung von Oberflächen und dünnen Filmen eingesetzt und ermöglicht es Forschern, topografische Karten mit atomarer Präzision zu erstellen.

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